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X射线荧光仪

X射线荧光仪

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X射线荧光仪

X射线荧光仪(XRF)是一种用于物质成分分析的仪器。其原理是利用高能X射线激发样品中的原子,使其释放出特征X射线荧光,通过检测这些荧光的能量或波长,即可对样品所含元素进行定性和定量分析。该技术具有快速、无损、多元素同时检测等特点。仪器主要分为能量色散型(EDXRF)和波长色散型(WDXRF)两大类,并有实验室台式、便携式等多种形态。X射线荧光仪广泛应用于地质矿产、冶金、建材、环境监测、文物考古、RoHS检测及工业生产过程中的质量控制等领域。

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